一、用途：
XPV-203E/XPV-203Z 透反射偏光显微
镜及熔点测定系统是地质、矿产、冶金、
石油化工、化纤、半导体工业以及药品检
验等部门和相关高等院校高分子等专业最
常用的专业实验仪器。透反射偏光显微镜
可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观
察，锥光观察及显微摄影，观察物体在加
热状态下的形变、色变及物体的三态转化
。透反射偏光显微镜采用微电脑检测，有
自动 P、I、D调节及模糊手动调节功能，
通过 LED显示温度值及设定温度值，仪表
显示准确、清晰、稳定，对温度控制可设
定程序，设有“上、下”限自动报警装置
，并可随时检查设定的温度数据，是新一
代熔点测温、控温装置。显微镜配置有石
膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺
等附件。本仪器具有可扩展性，可以接计
算机和数码相机，对图片进行编辑、保存
和打印。是一组具有较完备功能的新型产
品。
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透反射偏光显微镜 XPV-203E
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透反射偏光显微镜 XPV-203Z
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二、系统简介：
透反射偏光显微镜系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机图像处理技术
完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。透反射偏光显微镜可以在显示屏上很方便地观察实时
动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。
三、技术参数：
1．目镜 |
类 别 |
放大倍数 |
视场（mm） |
网格目镜 |
10X |
φ18 |
| 十字目镜 |
10X |
φ18 |
分划目镜 |
10X |
φ18 |
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| 2．物镜 |
类??别 |
放大倍数 |
数值孔径（NA） |
工作距离（mm） |
盖玻片厚度（mm） |
物?镜 |
4X |
0.10 |
7.80 |
- |
10X |
0.25 |
4.70 |
- |
25X |
0.40 |
1.75 |
0.17 |
40X |
0.65 |
0.72 |
0.17 |
63X |
0.85 |
0.18 |
0.17 |
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3.放大倍数：40X-630X ???系统放大倍数：40X-2600X
4.聚光镜数值孔径：NA1.2/0.22 摇出式消色差聚光镜，中心可调。
5.起偏镜：振动方向360°可调，带锁紧装置，可移动光路
6.检偏镜:可移出光路，旋转范围90°内置勃氏镜，中心、焦距可调
7.补偿器：λ片(φ18mm，一级红，光程差551nm)
λ/4片（φ18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子(12x28mm，Ⅰ-Ⅳ级)
8.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微调，格值为0.002mm
9.电光源：6V/20W卤素灯（亮度可调）
四、反射照明、同轴照明器（又名垂直照明器）
同轴照明器又名垂直照明器，它是显微镜垂直照明系统，系统系数1倍，可适配与各型号的普通（160mm
机械筒长，斜筒式）显微镜 。可作为反射光照明系统下观察不透明物体表面细微结构。
垂直照明装置配置与显微镜上不仅能进行一般金相分析、微粒分析测试还可以对非金属不透明物体进行
分析、观察而且配有偏光系统，作偏光观察。
五、系统组成
透反射偏光显微镜（XPV-203E）：1、偏光显微镜 2、同轴照明器 3.摄像器(CCD) 4.A/D(图像采集) 5、计算机
透反射偏光显微镜（XPV-203Z）：1、偏光显微镜 2、同轴照明器 4、数码相机系统
六、选购件
1、高像素成像系统 2.偏光显微镜分析软件 |
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